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看完本篇你就知道rohs2.0檢測設(shè)備的檢測原理了

發(fā)布日期: 2021-08-26
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  rohs2.0檢測設(shè)備是一種檢測ROHS指令的檢測儀,可以進行鹵素測試,鞋類含鉛量測試等,主要適用于電子、電器、五金、塑膠、玩具、涂料等各種生產(chǎn)廠家,是工廠用于解決RoHS、無鹵素等問題的最合適工廠檢測的儀器之一。
 
  下面讓我們一起來了解一下rohs2.0檢測設(shè)備的檢測原理吧
 
  X射線光譜儀(rohs檢測儀)通??煞譃閮纱箢悾ㄩL色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF),波長色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測角儀、探測器等,而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測器和相關(guān)電子與控制部件,相對簡單。
 
  波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線,根據(jù)Bragg定律,通過測定角度,即可獲得待測元素的譜線波長:
 
  nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
 
  式中 ,λ為分析譜線波長;d為晶體的晶格間距;θ為衍射角;n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角,利用上式可以計算相應(yīng)被分析元素的波長,從而獲得待測元素的特征信息。
 
  能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器,通過測定由探測器收集到的電荷量,直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量:
 
  Q=kE
 
  式中,K為入射射線的光子能量;Q為探測器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量;k為不同類型能量探測器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比,故通過測定電荷量可得到待測元素的特征信息。
 
  待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
 
  為獲得樣品的定性和定量信息,除光譜儀外,還必須采用一定的樣品制備技術(shù),并對獲得的強度進行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
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